ARCHIWUM - Konferencja Metrologia Kwantowa 2006
Politechnika Poznańska • Wydział Elektroniki i Telekomunikacji
e-mail: kwant@et.put.poznan.pl

  Main page 


ARCHIWUM - Konferencja METROLOGIA KWANTOWA 2006


Tematy wiodące - MK'2006

  • Zjawisko Josephsona i kwantowy wzorzec napięcia,
  • Kwantowy efekt Halla i wzorzec oporu elektrycznego,
  • Atomowe wzorce częstotliwości,
  • Tunelowanie pojedynczych elektronów,
  • Mikroskopy skaningowe i ich zastosowanie w metrologii,
  • Zastosowanie detektorów SQUID,
  • Nanometrologia,
  • Systemy pomiarowe w metrologii kwantowej


  • Referaty zaproszone - MK'2006

    "Quantum Hall Effect and Metrology"
    prof. Klaus von Klitzing - Max Planck Institut, Stuttgart, Niemcy

    "Quantum Hall Effect: the Fundamentals"
    prof. Karol Izydor Wysokiński - UMCS, Lublin

    Komitet honorowy - MK'2006

  • Włodzimierz Sanocki - Prezes Głównego Urzędu Miar
  • prof. Adam Hamrol - Rektor Politechniki Poznańskiej
  • prof. Klaus von Klitzing - Max Planck Institut, Stuttgart, Niemcy


  • Komitet programowy - MK'2006

  • prof. Jan Stankowski - Polska Akademia Nauk - przewodniczący
  • prof. Bogdan Bułka - Instytut Fizyki Molekularnej PAN , Poznań
  • prof. Andrzej Dobrogowski - Politechnika Poznańska
  • prof. Anna Domańska - Politechnika Poznańska
  • prof. Bogdan Galwas - Politechnika Warszawska
  • prof. Krystyna Kostyrko - COBR Techniki Instalacyjnej, Warszawa
  • mgr inż. Elżbieta Michniewicz - Główny Urząd Miar, Warszawa
  • prof. Waldemar Nawrocki - Politechnika Poznańska
  • prof. Vladimir M. Pan - Instytut Fizyki Metali Akademii Nauk Ukrainy, Kijów, (Ukraina)
  • prof. Paul Seidel - Friedrich Schiller University, Jena, (Niemcy)
  • prof. Tadeusz Skubis - Politechnika Śląska
  • prof. Bronisław Susła - Politechnika Poznańska
  • prof. Karol Izydor Wysokiński - UMCS, Lublin
  • prof. Romuald Zielonko - Politechnika Gdańska


  • Komitet organizacyjny - MK'2006

  • prof. Waldemar Nawrocki - przewodniczący
  • prof. Anna Domańska
  • dr inż. Maciej Wawrzyniak - sekretarz
  • dr inż. Krzysztof Arnold
  • dr inż. Janina Lisiecka-Frąszczak
  • dr inż. Sławomir Michalak
  • mgr inż. Michał Maćkowski
  • mgr inż. Jakub Pająkowski
  • inż. Grażyna Głaz


  • Referaty - MK'2006

    Referaty zaproszone
    1 Klaus von Klitzing
    MPI Stuttgart, Niemcy
    Quantum Hall Effect and Metrology
    2 K. Wysokiński
    UMCS Lublin
    Quantum Hall Effect: Fundamentals
    Referaty (w kolejności alfabetycznej)
    3 P. Adamski
    PŁ Łódź
    Badanie Σ (ri)2 cząsteczek ciekłych kryształów homologu cb n (5-9)
    4 R. Czajka
    PP Poznań
    Investigation of Coulomb blockade effect in double tunnel junctions
    5 A. Czubla
    GUM Warszawa
    Realization of Atomic SI Second Definition in Context UTC(PL) and TA(PL)
    6 E. Dudek, E. Michniewicz, D. Sochocka
    GUM Warszawa
    Kwantowa realizacja jednostki miary napięcia elektrycznego
    7 M. Giersig
    CAESAR Niemcy
    Optical and structural characterization on nanomaterials
    8 T. Gotszalk
    PWr Wrocław
    Zagadnienia nanomiernictwa mikro- i nanostruktrur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
    9 A. Jarosz, A. Buczek, B. Furmann, D. Stefańska, P. Głowacki, Ł. Piątkowski, J. Dembczyński
    PP Poznań
    Fizyczne aspekty precyzji pomiarów metodą podwójnego rezonansu optyczno-mikrofalowego na strumieniu atomowym
    10 M. Kamiński
    PP Poznań
    The study of electron properties of carbon nanotubes using STM/STS
    11 K. Kolanek
    PWr Wrocław
    Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
    12 A. Korolev, A. L. Danilyuk, V. E.;Borisenko
    BSUIR Mińsk, Białoruś
    Nanometrology of spin polarization of fluorine nuclei in optically excited Si/CaF2 nanostructures
    13 W. Krech
    FSU Jena, Niemcy
    Dynamic properties of an interferometer- type charge qubit
    14 S. Michalak
    PP Poznań
    Model kwantowanej przewodności w programie APLAC
    15 P. Mulat
    PWr Wrocław
    Zastosowanie interferometrii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
    16 K. Lange
    PP Poznań
    Ocena wpływu temperatury otoczenia na niestałość częstotliwości wzorca rubidowego
    17 W. Nawrocki
    PP Poznań
    Revising the SI: the joule to replace the kelvin as a base unit
    18 P. Otomański
    PP Poznań
    Optoelektroniczna separacja kanałów analogowych w systemach pomiarowych
    19 J. Pająkowski, S. Michalak
    PP Poznań
    Symulacja stanów przejściowych w obwodach z kwantowaną przewodnością
    20 J. Ratyńska
    PR Radom
    Badanie rozkładu pola magnetycznego za pomocą hallotronu ze wspomaganiem komputerowym
    21 E. Stachowska
    PP Poznań
    The application of laser-microwave resonance in trapped rare-earth ions to magnetometry
    22 J. Stankowski
    IMP Poznan
    Josephson absorption applications to study of nanostructures
    23 B. Susła
    PP Poznań
    Conductance quantization in ferromagnetic Co nanowires
    24 B. Smereczyńska
    GUM Warszawa
    Problematyka zachowania spójności pomiarowej w dziedzinie nanometrologii wymiarowej
    25 Z. Warsza
    Warszawa
    O możliwościach wykorzystania w pomiarach interferencji dwu wiązek światła ze źródeł niespójnych
    26 M. Wawrzyniak
    PP Poznań
    Analog-to-digital converter differential nonlinearity error correction in building conductance histograms
    27 M. Wawrzyniak
    PP Poznań
    System pomiarowy do wyznaczania charakterystyk prądowo-napięciowych nanodrutów
    28 G. Wiczyński
    PP Poznań
    Skanowanie palców dłoni z wykorzystaniem promieniowania optycznego
    29 M. Wiśniewski, A. Sionkowska, H. Kaczmarek, J. Skopińska, S. Lazare, V. Tokarev
    UMK Toruń
    Applications of scanning microscopy for measurement of surface properties of laser treated biomaterials


    Materiały konferencyjne - MK'2006


    Elektronika 5/2006

      Pełne teksty referatów zostały opublikowane w numerze 5/2006 miesięcznika ELEKTRONIKA poświęconym konferencji MK'2006. ELEKTRONIKA to czasopismo naukowo-techniczne omawiąjące problemy technologii elektronowej, techniki próżni, materiałów elektronicznych, mikroelektroniki, techniki laserowej i mikrofalowej, konstrukcji, miernictwa i zastosowań: podzespołów, optoelektroniki, urządzeń i sprzętu elektronicznego, oraz podzespołów dla telekomunikacji i informatyki. -> http://www.sigma-not.pl

    W numerze 5/2006 między innymi: